Absehen und Raster
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Beleuchtetes Absehen für Zielfernrohre
Untergrund:B270 / N-BK7/ H-K9L / H-K51
Maßtoleranz:-0,1 mm
Dickentoleranz:±0,05 mm
Oberflächenebenheit:2(1)@632,8nm
Oberflächenqualität:20/10
Linienbreite:mindestens 0,003 mm
Kanten:Boden, 0,3 mm max.Abschrägung über die gesamte Breite
Klare Blende:90 %
Parallelität:<45"
Beschichtung:Opakes Chrom mit hoher optischer Dichte, Laschen <0,01 % bei sichtbarer Wellenlänge
Transparenter Bereich, AR: R<0,35 % bei sichtbarer Wellenlänge
Verfahren:Glas geätzt und mit Natriumsilikat und Titandioxid aufgefüllt -
Präziser optischer Schlitz – Chrom auf Glas
Untergrund:B270
Maßtoleranz:-0,1 mm
Dickentoleranz:±0,05 mm
Oberflächenebenheit:3(1)@632,8nm
Oberflächenqualität:40/20
Linienbreite:0,1 mm und 0,05 mm
Kanten:Boden, 0,3 mm max.Abschrägung über die gesamte Breite
Klare Blende:90 %
Parallelität:<45"
Beschichtung:Opakes Chrom mit hoher optischer Dichte, Laschen <0,01 % bei sichtbarer Wellenlänge -
Tischmikrometer, Kalibrierskalengitter
Untergrund:B270
Maßtoleranz:-0,1 mm
Dickentoleranz:±0,05 mm
Oberflächenebenheit:3(1)@632,8nm
Oberflächenqualität:40/20
Linienbreite:0,1 mm und 0,05 mm
Kanten:Boden, 0,3 mm max.Abschrägung über die gesamte Breite
Klare Blende:90 %
Parallelität:<45"
Beschichtung:Opakes Chrom mit hoher optischer Dichte, Laschen <0,01 % bei sichtbarer Wellenlänge
Transparenter Bereich, AR: R<0,35 % bei sichtbarer Wellenlänge -
Präzisionsabsehen – Chrom auf Glas
Untergrund:B270 /N-BK7 / H-K9L
Maßtoleranz:-0,1 mm
Dickentoleranz:±0,05 mm
Oberflächenebenheit:3(1)@632,8nm
Oberflächenqualität:20/10
Linienbreite:Mindestens 0,003 mm
Kanten:Boden, 0,3 mm max.Abschrägung über die gesamte Breite
Klare Blende:90 %
Parallelität:<30"
Beschichtung:Einschichtiges MgF2, Ravg<1,5 %@Design-WellenlängeLinie/Punkt/Figur: Cr oder Cr2O3
